ქიმიის ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი

 

transmission electron microscopy (TEM) ტრანსმისიული ელექტრონული მიკროსკოპია (ტემ)
Any technique in which an electron transparent sample is bombarded with an electron beam and the intensity of the transmitted electrons which is determined by scattering phenomena (electron absorption phenomena) in the interior of the sample is recorded. TEM essentially provides a high resolution image of the microstructure of a thin sample. This technique is often just called electron microscopy. The term transmission electron microscopy is however recommended for the sake of a clear distinction from other electron microscopic techniques. ნებისმიერი ტექნიკა, რომლის დროსაც ელექტრონგამჭვირვალე ნიმუში იბომბება ელექტრონული სხივით და აღირიცხება გადაცემული ელექტრონების ინტენსივობა, რომელიც განისაზღვრება ნიმუშის შიგნით გაბნევის ფენომენებით (ელექტრონის შთანთქმის ფენომენები). ტემ არსებითად უზრუნველყოფს თხელი ნიმუშის მიკროსტრუქტურის მაღალი გარჩევადობის სურათს. ამ ტექნიკას ხშირად მხოლოდ ელექტრონულ მიკროსკოპს უწოდებენ. თუმცა, ტერმინი ტრანსმისიული ელექტრონული მიკროსკოპია რეკომენდებულია სხვა ელექტრონული მიკროსკოპული ტექნიკისგან მკაფიო განსხვავების მიზნით.
Source | წყარო:
PAC, 1983, 55, 2023 (Nomenclature, symbols and units recommended for in situ microanalysis (Provisional)) on page 2024