ქიმიის ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი

 

secondary electron yield მეორეული ელექტრონების გამოსავლიანობა

in in situ microanalysis

The number of secondary electrons generated per primary electron for a given specimen and experimental conditions. It depends on the (mean) atomic number of the excited area of the sample, the angle between electron beam and sample surface, the primary electron energy, thickness of the sample and sample potentials.

in situ მიკროანალიზში

მეორეული ელექტრონების რაოდენობა, რომელიც წარმოიქმნება ერთი პირველადი ელექტრონიდან მოცემული ნიმუშისა და ექსპერიმენტის პირობებისთვის. იგი დამოკიდებულია (საშუალოდ) ნიმუშის აღგზნებული არეალის ატომურ რიცხვზე, ელექტრონულ სხივსა და ნიმუშის ზედაპირს შორის კუთხეზე, პირველადი ელექტრონების ენერგიაზე, ნიმუშის სისქესა და ნიმუშის პოტენციალზე.

Source | წყარო:
PAC, 1983, 55, 2023 (Nomenclature, symbols and units recommended for in situ microanalysis (Provisional)) on page 2026