ქიმიის ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი

 

scanning electron microscopy (SEM) მასკანირებელი ელექტრული მიკროსკოპი

Any analytical technique which involves the generation and evaluation of secondary electrons (and to a lesser extent back scattered electrons) by a finely focused electron beam (typically 10 nm or less) for high resolution and high depth of field imaging.

ნებისმიერი ანალიზური მეთოდი, რომელიც მოიცავს მეორადი ელექტრონების (და შედარებით ნაკლებად უკან გაფანტული ელექტრონების) წარმოქმნას და შეფასებას წვრილად ფოკუსირებული ელექტრონული სხივით (ჩვეულებრივ, 10 ნმ ან ნაკლები) მაღალი გარჩევადობისა და ველის მაღალი სიღრმის გამოსახულების მისაღებად.

Source | წყარო:
PAC, 1983, 55, 2023 (Nomenclature, symbols and units recommended for in situ microanalysis (Provisional)) on page 2024