- (in analytical chemistry) The combined effect of all components of the sample other than the analyte on the measurement of the quantity. If a specific component can be identified as causing an effect then this is referred to as interference.
- (in surface analysis) Effects which cause changes in Auger-electron, photoelectron, secondary ion yield, or scattered ion intensity, the energy or shape of the signal of an element in any environment as compared to these quantities in a pure element.
|
- (ანალიზურ ქიმიაში) ანალიტის გარდა ნიმუშის ყველა დანარჩენი კომპონენტის ერთობლივი ზეგავლენა რაოდენობის გაზომვაზე. თუ შესაძლებელია გავლენის გამომწვევი კონკრეტული კომპონენტის დადგენა, მას ხელისშემშლელს უწოდებენ.
- (ზედაპირის ანალიზში) ეფექტები, რომლებიც იწვევენ ოჟეს ელექტრონის, ფოტოელექტრონის, მეორადი იონების ან გაბნეული იონების ინტენსიურობის ცვლილებებს, ნებისმიერ გარემოში ელემენტის სიგნალის ენერგიას ან ფორმას, სუფთა ელემენტის ამ რაოდენობებთან შედარებით.
|
Source | წყარო:
- PAC, 1989, 61, 1657 (Nomenclature for automated and mechanised analysis (Recommendations 1989)) on page 1660
- PAC, 1979, 51, 2243 (General aspects of trace analytical methods - IV. Recommendations for nomenclature, standard procedures and reporting of experimental data for surface analysis techniques) on page 2247
|
