ქიმიის ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი

 

ion probe microanalysis იონური ზონდის მიკროანალიზი
Any technique in which the specimen is bombarded by a focused beam of (primary) ions (diameter less than 10 μm) and the (secondary) ions ejected from the specimen are detected after passage through a mass spectrometer. ნებისმიერი ტექნიკა, რომლის დროსაც ნიმუში იბომბება (პირველადი) იონების ფოკუსირებული სხივით (დიამეტრი 10 მკმ-ზე ნაკლები) და ნიმუშიდან გამოდევნილი (მეორადი) იონები ვლინდება მას-სპექტრომეტრის გავლის შემდეგ.
Source | წყარო:
  1. PAC, 1983, 55, 2023 (Nomenclature, symbols and units recommended for in situ microanalysis (Provisional)) on page 2025
  2. PAC, 1979, 51, 2243 (General aspects of trace analytical methods - IV. Recommendations for nomenclature, standard procedures and reporting of experimental data for surface analysis techniques) on page 2246