ქიმიის ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი

 

ion microscopy იონური მიკროსკოპი
Use of the secondary ion mass spectrometry (SIMS) technique to obtain micrographs of the elemental (or isotopic) distribution at the surface of a sample with a spatial resolution of 2 μm or better. მეორადი იონური მას-სპექტრომეტრიის მეთოდის გამოყენება ნიმუშის ზედაპირზე ელემენტარული (ან იზოტოპური) განაწილების 2 მკმ ან უკეთესი სივრცითი გარჩევადობის მიკროგრაფების მისაღებად.
Source | წყარო:
Orange Book, p. 249