ქიმიის ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი

 

depth resolution სიღრმის გარჩევადობა
The distance between the 84 and 16 per cent levels of the depth profile of an element in a perfect sandwich sample with an infinitesimally small overlap of the components. These limits correspond to the 2-value of the Gaussian distribution of the signal at the interface. მანძილი ელემენტის სიღრმის პროფილის 84% და 16% შორის სრულყოფილ სენდვიჩის ნიმუშში კომპონენტების უსასრულოდ მცირე გადაფარვით. ეს ზღვრები შეესაბამება გამყოფ ზედაპირზე 2-მნიშვნელობიანი გაუსის განაწილების სიგნალს.
Source | წყარო:

PAC, 1979, 51, 2243 (General aspects of trace analytical methods - IV. Recommendations for nomenclature, standard procedures and reporting of experimental data for surface analysis techniques) on page 2247