ქიმიის ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი

 

sensitivity მგრძნობიარობა
in mass spectrometry მას-სპექტრომეტრიაში
Two different measures of sensitivity are recommended. The first, which is suitable for relatively involatile materials as well as gases, depends upon the observed change in ion current for a particular amount or change of flow rate of sample though the ion source. A second method of stating sensitivity, that is most suitable for gases, depends upon the change of ion current related to the change of partial pressure of the sample in the ion source. It is important that the relevant experimental conditions corresponding to sensitivity measurement should always be stated. These include in a typical case details of the instrument type, bombarding electron current, slit dimensions, angular collimation, gain of the multiplier detector, scan speed and whether the measured signal corresponds to a single mass peak or to the ion beam integrated over all masses. რეკომენდებულია მგრძნობელობის ორი განსხვავებული ზომა. პირველი, რომელიც შესაფერისია შედარებით არააქროლადი მასალებისა და აირებისთვის, დამოკიდებულია გარკვეული რაოდენობის იონური დენის დაკვირვებად ცვლილებაზე ან ნიმუშის ნაკადის სიჩქარის ცვლილებაზე იონის წყაროში. მგრძნობიარობის დადგენის მეორე მეთოდი, რომელიც ყველაზე შესაფერისია აირებისათვის, დამოკიდებულია იონის დენის ცვლილებაზე, რომელიც დაკავშირებულია ნიმუშის პარციალური წნევის ცვლილებასთან იონის წყაროში. მნიშვნელოვანია, რომ ყოველთვის უნდა იყოს მითითებული მგრძნობიარობის გაზომვის შესაბამისი ექსპერიმენტული პირობები, როგორიცაა ტიპურ შემთხვევაში მოწყობილობის ტიპური დეტალები, დაბომბვის ელექტრონების დენი, ჭრილის ზომები, კუთხური კოლიმაცია, დეტექტორის მულტიპლიკატორის გაძლიერების კოეფიციენტი, სკანირების სიჩქარე და შეესაბამება თუ არა გაზომილი სიგნალი ერთი მასის პიკს ან იონურ ნაკადს, რომელშიც ინტეგრირებულია სხვადასხვა მასა.
Source | წყარო:
PAC, 1991, 63, 1541 (Recommendations for nomenclature and symbolism for mass spectroscopy (including an appendix of terms used in vacuum technology). (Recommendations 1991)) on page 1553 Orange Book, p. 206